Outlook and Challenges of Nano Devices, Sensors, and MEMS [electronic resource] / edited by Ting Li, Ziv Liu.

Інтелектуальна відповідальність: Вид матеріалу: Текст Публікація: Cham : Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2017Видання: 1st ed. 2017Опис: XVI, 521 p. 367 illus., 272 illus. in color. online resourceТип вмісту:
  • text
Тип засобу:
  • computer
Тип носія:
  • online resource
ISBN:
  • 9783319508245
Тематика(и): Додаткові фізичні формати: Printed edition:: Немає назви; Printed edition:: Немає назви; Printed edition:: Немає назвиДесяткова класифікація Дьюї:
  • 621.3815 23
Класифікація Бібліотеки Конгресу:
  • TK7888.4
Електронне місцезнаходження та доступ:
Вміст:
Introduction -- High-k dielectric for nanoscale MOS devices -- Performance, optimization, and reliability of FinFET devices -- Performance, optimization, and challenges of emerging nanowire field-effect transistors -- Graphene technology for future MEMS and sensor applications -- Nanoscale sensors for next-generation optical transceiver applications -- Nanoscale MEMS for future optical communication applications -- Nanoscale devices for biomedical applications -- Effect of nanoscale structure on reliability of nano devices and sensors -- Compact modeling of nano devices and sensors -- Three-dimensional TCAD simulation of nano semiconductor devices -- Fabrication of nano devices based on novel material -- Novel processing technology for fabricating nano devices and sensors -- Conclusions.
У: Springer eBooksЗведення: This book provides readers with an overview of the design, fabrication, simulation, and reliability of nanoscale semiconductor devices, MEMS, and sensors, as they serve for realizing the next-generation internet of things. The authors focus on how the nanoscale structures interact with the electrical and/or optical performance, how to find optimal solutions to achieve the best outcome, how these apparatus can be designed via models and simulations, how to improve reliability, and what are the possible challenges and roadblocks moving forward.
Тип одиниці: ЕКнига Списки з цим бібзаписом: Springer Ebooks (till 2020 - Open Access)+(2017 Network Access)) | Springer Ebooks (2017 Network Access))
Мітки з цієї бібліотеки: Немає міток з цієї бібліотеки для цієї назви. Ввійдіть, щоб додавати мітки.
Оцінки зірочками
    Середня оцінка: 0.0 (0 голос.)
Немає реальних примірників для цього запису

Introduction -- High-k dielectric for nanoscale MOS devices -- Performance, optimization, and reliability of FinFET devices -- Performance, optimization, and challenges of emerging nanowire field-effect transistors -- Graphene technology for future MEMS and sensor applications -- Nanoscale sensors for next-generation optical transceiver applications -- Nanoscale MEMS for future optical communication applications -- Nanoscale devices for biomedical applications -- Effect of nanoscale structure on reliability of nano devices and sensors -- Compact modeling of nano devices and sensors -- Three-dimensional TCAD simulation of nano semiconductor devices -- Fabrication of nano devices based on novel material -- Novel processing technology for fabricating nano devices and sensors -- Conclusions.

This book provides readers with an overview of the design, fabrication, simulation, and reliability of nanoscale semiconductor devices, MEMS, and sensors, as they serve for realizing the next-generation internet of things. The authors focus on how the nanoscale structures interact with the electrical and/or optical performance, how to find optimal solutions to achieve the best outcome, how these apparatus can be designed via models and simulations, how to improve reliability, and what are the possible challenges and roadblocks moving forward.

Available to subscribing member institutions only. Доступно лише організаціям членам підписки.

Online access from local network of NaUOA.

Online access with authorization at https://link.springer.com/

Онлайн-доступ з локальної мережі НаУОА.

Онлайн доступ з авторизацією на https://link.springer.com/

Немає коментарів для цієї одиниці.

для можливості публікувати коментарі.