VLSI Design and Test [electronic resource] : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 – July 2, 2017, Revised Selected Papers / edited by Brajesh Kumar Kaushik, Sudeb Dasgupta, Virendra Singh.

Інтелектуальна відповідальність: Вид матеріалу: Текст Серія: Communications in Computer and Information Science ; 711Публікація: Singapore : Springer Singapore : Imprint: Springer, 2017Видання: 1st ed. 2017Опис: XXI, 815 p. 486 illus. online resourceТип вмісту:
  • text
Тип засобу:
  • computer
Тип носія:
  • online resource
ISBN:
  • 9789811074707
Тематика(и): Додаткові фізичні формати: Printed edition:: Немає назви; Printed edition:: Немає назвиДесяткова класифікація Дьюї:
  • 004 23
Класифікація Бібліотеки Конгресу:
  • QA75.5-76.95
  • TK7885-7895
Електронне місцезнаходження та доступ:
Вміст:
Digital design -- Analog/mixed signal -- VLSI testing -- Devices and technology -- VLSI architectures -- Emerging technologies and memory -- System design -- Low power design and test -- RF circuits -- Architecture and CAD -- Design verification.
У: Springer eBooksЗведення: This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.
Тип одиниці: ЕКнига Списки з цим бібзаписом: Springer Ebooks (till 2020 - Open Access)+(2017 Network Access)) | Springer Ebooks (2017 Network Access))
Мітки з цієї бібліотеки: Немає міток з цієї бібліотеки для цієї назви. Ввійдіть, щоб додавати мітки.
Оцінки зірочками
    Середня оцінка: 0.0 (0 голос.)
Немає реальних примірників для цього запису

Digital design -- Analog/mixed signal -- VLSI testing -- Devices and technology -- VLSI architectures -- Emerging technologies and memory -- System design -- Low power design and test -- RF circuits -- Architecture and CAD -- Design verification.

This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.

Available to subscribing member institutions only. Доступно лише організаціям членам підписки.

Online access from local network of NaUOA.

Online access with authorization at https://link.springer.com/

Онлайн-доступ з локальної мережі НаУОА.

Онлайн доступ з авторизацією на https://link.springer.com/

Немає коментарів для цієї одиниці.

для можливості публікувати коментарі.