Records of the 1996 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing, August 13-14, 1996, Singapore / [electronic resource] edited by Rochit Rajsuman, Yong-Khim Swee, Lee-Yee Lau ; sponsored by the IEEE Computer Society Technical Committee on Test Technology, the IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI, in cooperation with the IEEE Solid State Circuits Council.

За: Інтелектуальна відповідальність: Вид матеріалу: Текст Публікація: Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society Press, c1996.Опис: ix, 123 p. : ill. ; 28 cmISBN:
  • 0818674660
  • 9780818674662
Варіант назви:
  • 1996 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing
Тематика(и): Класифікація Бібліотеки Конгресу:
  • TK7895.M4 I335 1996
Інша класифікація:
  • SS 1996
  • ST 175
Електронне місцезнаходження та доступ: Available additional physical forms:
  • Also available via the World Wide Web with additional title: Memory Technology, Design and Testing, 1996, Records of the 1996 IEEE International Workshop on.
Тип одиниці: ЕКнига
Мітки з цієї бібліотеки: Немає міток з цієї бібліотеки для цієї назви. Ввійдіть, щоб додавати мітки.
Оцінки зірочками
    Середня оцінка: 0.0 (0 голос.)
Немає реальних примірників для цього запису

"IEEE catalog number 96TB100042"--T.p. verso.

Includes bibliographical references and index.

Also available via the World Wide Web with additional title: Memory Technology, Design and Testing, 1996, Records of the 1996 IEEE International Workshop on.

Необхідна авторизація на https://archive.org/ (створення облікового запису безкоштовно)

Необхідна авторизація на https://openlibrary.org/ (створення облікового запису безкоштовно)

Немає коментарів для цієї одиниці.

для можливості публікувати коментарі.